當前位置：2020年12月11-13日，首屆國際高端測量儀器高層論壇暨第11屆精密工程測量與儀器國際會議在京隆重召開。本次會議由中國工程院、國際測量與儀器委員會共同主辦，中國工程院信息與電子工程學部、中國儀器儀表學會、中國計量測試學會、哈爾濱工業(yè)大學聯合承辦，北京信息科技大學協(xié)辦。中國工程院院士、哈爾濱工業(yè)大學精密儀器工程研究院院長譚久彬教授擔任大會主席并主持會議。
中國工程院金國藩、周立偉、葉聲華、李天初等院士出席了大會。國際測量技術聯合會（IMEKO）前主席Kenneth T V Grattan教授、美國加州理工大學Lihong V. Wang教授、德國PTB Jens Flügge博士、美國密歇根大學Steven Cundiff教授、日本電氣通信大學Kaoru Minoshima教授等國際學術大師和世界頂級科學家參加了大會。大會主席團成員，金國藩院士、中國儀器儀表學會張彤秘書長、中國計量測試學會馬愛文秘書長先后在大會開幕式上致辭。
會議內容為主論壇大會報告、分論壇研討和圓桌論壇三個部分。李天初院士等8位國際著名專家學者作了主論壇大會特邀報告；分論壇研討分為8個分會場，40個國內外專家進行了分會主旨和邀請報告；圓桌會議研討會邀請100余位儀器科學與工程科技領域的著名科學家、技術專家和企業(yè)家，共同探討和交流了國際儀器領域的重大前沿問題。
本次論壇根據世界科技革命與產業(yè)變革趨勢，探討和判斷高端測量儀器技術發(fā)展趨勢和儀器產業(yè)發(fā)展趨勢；提出促進世界高端測量儀器科技與產業(yè)重點發(fā)展方向；共同推進世界范圍內高端測量儀器技術形態(tài)和產業(yè)業(yè)態(tài)的變革，從而為科技發(fā)展提供更有力的支撐。
（圖/文 王甜甜）
京公網安備 11010202008133號